- HOME
- 홈페이지 이용안내
장비 및 시설 기본정보
프리에 적외 분광도계
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Varian |
| 모델명 | 660 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-07-26 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 광주과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B502 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 유기물 무기물 중 공유결합을 갖는 모든 화합물은 적외선 영역에서 결합 에너지에 해당하는 진동 수(파수)의 전자파를 흡수하기 때문에 시료에 적외선을 조사하여 각 물질내의 결합 에너지에 의한 고유 스펙트럼(Spectrum)을 나타내고 진동에너지 준위들 사이에서의 전이 현상에 의한 흡수 주파수로부터 분자내의 작용기(funtional groups)들을 식별할 수 있다. 또한 그 스펙트럼을 해석함으로서 미지 물질의 정성 정량 분석을 행한다. FT-IR은 two-beam inteferometer인 마이켈슨 간섭계의 원리를 이용한다. 즉한쪽의 거울을 움직이면서 측정한 빛의 세기를 거리에 대하여 Fourier 변환을하게 되면 주파수(파장의 역수)에 대한 빛의 세기 분포인 spectrum을 얻게 된다.구성및성능 시료의 정량분석 ‘Van der Waals 등의 약한 화학결합’ ‘전하 전이 결합’ ‘긴 사슬 구조나 무거운 원자가 포함된 분자들의 결합’ 상태분석 물질의 optical constant 결정 초전도체의 에너지 gap 측정 등이 가능하다. Single bounce HATR Accessory ATR Accessory Diffuse reflectance Variable Angle specular Reflectance Accessory 구성되어 있다.활용분야 FT-IR은 투과 반사 흡수 ATR법 등을 이용해서 여러 가지 샘플을 분석할 수 있다. 또한 많은 accessory가 ATR법과 Microscope이다. 이러한 method를 이용해서 샘플표면 분석이나 Micro 단위의 샘플을 측정하는데 주로 이용되고 있다. 또한 silicon wafers의 불순물을 분석하거나 반도체 산업의 epitaxial layer를 측정하는데 응용되고 IR Microscopy는 microelectronics. Papers. Textiles pollution control coal research electrical components polymer coatings와 fibers petrochemistry와 forensience 등의 연구 및 분석개발에 응용되고 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110114153528.JPG |
| 장비위치주소 | 광주 북구 오룡동 광주과학기술원 1 광주과학기술원 신재생에너지연구소 2층 202 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-08-082421 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0018826 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |