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장비 및 시설 기본정보
고온 X-선 회절 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | BRUKER AXS |
| 모델명 | D8 ADVANCE |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2003-10-16 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 수원대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 박막 및 분말 상 시료의 결정구조 결정크기 측정 온도에 따른 결정구조의변화측정 재료내의 잔류 응력 및 집합조직의 분석 고분자 물질의 결정 화도 측정 fine ceramic의 결정구조 및 결정크기 분석 1200℃까지 온도를 높이면서 결정구조의 변화 측정나노 전자재료 환경박막의 화합물 분석 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200809/.thumb/20080926171603.jpg |
| 장비위치주소 | 경기 화성시 봉담읍 와우리 수원대학교 산2-2번지 수원대학교 고운첨단과학기술연구원 5층 504 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-09-068521 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0011326 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |