에너지분산형 x선 형광분석기
기관명 | ZEUS |
---|---|
장비번호 | |
제작사 | Oxford Instruments |
모델명 | X-Strata980 |
장비사양 | |
취득일자 | 2012-01-27 |
취득금액 |
보유기관명 | 광주과학기술원 |
---|---|
보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B522 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 소재의 화학적 조성 분석을 위한 분석기로서 특히 박막 내에서의 X선 형광을 통해 박막 내 화학적 조성비와 함께 각층의 두께 등을 분석할 수 있는 장비이다. 또한 최근 C(InGa)Se2 Cu(Zn Sn)Se2 Cu(Al Ga)Se2 등의 4원계 화합물을 활용한 태양전지 소자의 공정 제어 등을 위해 활용되는 화학조성 분석 장비로 이원계 삼원계 사원계 화합물 등 최대 15개 원소를 함유하고 있는 박막의 조성을 분석할 수 있다.Model: X-Strata980 비파괴 EDXRF Thickness and chemical composition analysis : P15 ~ U92 Maximum current and voltage: 2.0mA and 50kV (100W) 25mm2 Pin Detector Multi Collimator System: 0.1 mm 0.2 mm 0.3 mm 1.27 mm (Ø) XRF-PC(컨트롤러) 일체형 시스템 Dimension: 765 x 700 x 790 mm (HWD) 135 Kg CIGS/Mo/Glass standard sample 제공 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201202/.thumb/20120213133212.JPG |
장비위치주소 | 광주 북구 오룡동 광주과학기술원 1 광주과학기술원 신재생에너지연구소 2층 202 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2012-02-154247 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0031006 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
---|---|
ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |