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장비 및 시설 기본정보
저온주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-4800 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2011-10-26 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 울산과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 아주 미세한 Gun Electron Source(전자원)으로 부터 인가된 일차 전자가 시료에 조사되면서 이때 발생되는 다양한 전자 (Secondary Electron Backscattered Electron Cathode Luminescence etc.)를 이용하여 시료 표면의 미세한 구조를 확대 관찰하는 기기로서 일반 광학현미경과 비교하여 분해능과 집점심도가 우수하여 sample의 표면관찰은 물론 조성등을 관찰함으로서 시료의 특성 표면구조 및 결합을 관찰하는데 사용되는 분석기기이다. 특히 낮은 가속전압으로도 고분해능및 고배율을 얻을수 있는 기기이다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201604/2016042810505399.jpg |
| 장비위치주소 | 102동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-02-175687 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201812172468 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |