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장비 및 시설 기본정보
주사전자 현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | TM-1000 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-05-08 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한경대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 전자현미경 분석의 경우에는 반드시 전처리 과정(Drying, Coating 등)을 거쳐 고배율의 이미지를 분석하였고, 광학현미경의 경우는 일반적으로 배율의 한계 때문에 고배율 관찰이 불가능하였다. 이러한 분석의 한계를 넘기 위해 전처리 과정 없이도 부도체의 경우 일반적으로 ×5,000 이상의 이미지를 관찰하고자 사용되는 장비이다.주사전자현미경의 구성 및 성능은 아래와 같다. - 배율 : x20 ~ x10,000(디지탈 줌 : x2, x4) - 가속전압 : 15 kV - 관찰 모드 : 기본 모드, 대전 현상 줄임 모드 등으로 구성되어 있다주사전자현미경은 농학, 축산학, 식품학, 재료공학, 생물학 분야 등의 시료 단면구조 관찰 응용에 있어서 투과전자현미경은 금속, 세라믹, 반도체, 고분자 합성체 등의 재료분야, 의학 등의 생체시료 조직 관찰에 주로 사용되고 있으며 주사전자현미경은 광학 현미경의 영역에 포함되며, 분석장비를 추가하여 분석장비로서의 영역도 확보해 나가고 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201501/.thumb/201501151601233.JPG |
| 장비위치주소 | 경기 안성시 석정동 63-1 한경대학교 1층 102 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-01-195944 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0048381 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |