- HOME
- 홈페이지 이용안내
장비 및 시설 기본정보
주사탐침현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 파크시스템스 |
| 모델명 | XE-100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-03-31 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 효성기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 나노 입자의 분산 및 크기를 관찰할 수 있는 첨단 계측장비로서 원자 지름의 수십 분의 1까지 측정 가능 본체 컴퓨터 하드 및 모니터 악세사리 (Cantilever 등) 시료 전처리 및 단면 절단은 Ultramicrotome이 구비되어 있어 보다 편리하게 사용할 수 있으며 더 정밀한 분석이 이루어지고 있다.PET film 원사 고분자 chip 등의 단면 및 표면을 접촉(contact mode) 및 비접촉식(non-contact mode)으로 분석하여 표면의 거칠기 및 표면의 상태 또는 표면에 분산된 나노물질 및 이물질의 분석이 가능하다. 또한 단면에 대한 나노 물질 및 의 분포 등에 대한 정보가 가능하다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201102/.thumb/20110216115048.jpg |
| 장비위치주소 | 경기 안양시 동안구 호계동 183-2 효성기술원 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-02-142154 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0027168 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |