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전계방사주사현미경

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보유기관명	우석대학교 산학협력단
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A206
표준분류명
시설장비 설명	- High resolution field emission scanning electron micro scope which cold type FEG for the electron source permits 1.0nm guaranteed resolution at 15kV and 2.2nm guaranteed resolution at 1kV or better. - 1280x960 pixels high-definition display system enables a fine flicker free image even in a slow scan condition and makes the SEM possible to be operated in a lighted room.1) Resolution: 1.0nm guaranteed at 15kV or better 2.2nm guaranteed at 1kV or better 2) Magnification: 25 to 650000X or wider 3) Accelerating voltage: 0.5 to 30kV or wider 4) Probe current: 1x10-13 to 2x10-9 or wider시료의 표면 Image 및 원소 조성차이에 의한 조성상 관찰 불순물의 위치파악 및 형태 크기 관찰 고분자의 형태와 크기 표면형상 관찰 시료의 원소분석과 Mapping을 통한 구성성분 분석 관찰 시료의 정량？정성 분석(Point Line Mapping)
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110106105109.JPG
장비위치주소	전북 완주군 봉동읍 둔산리 864-10 지역혁신센터 우석대학교 지역혁신센터 1층 107
NFEC 등록번호	NFEC-2011-01-131491
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0021175
첨부파일

기업조회