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장비 및 시설 기본정보
접촉식 3차원 표면분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | Dektak XT |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2014-02-18 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 재료연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | F202 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 본 장비는 두껍거나 매우 얇은 nano meter 단위의 코팅이나 필름막의 두께를 측정할 뿐 아니라 표면거칠기 Waviness를 측정분석하고 샘플홀더가 사각형 옵션에 따라 회전형 등 다양하게 수용 가능하다. 2차원 분석 및 3차원 이미지 분석도 가능하다. 이상적인 조건에서 5Å보다 좋은 측정 반복도를 가진다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201402/201402241526441.JPG |
| 장비위치주소 | 재료연구소 연구3동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-02-185976 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0042379 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |