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장비 및 시설 기본정보
오제이전자분광기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | |
| 모델명 | |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1989-12-09 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 중앙분석센터 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 반도체 박막시편 및 재료의 표면조성분석, 수십？ 내의 표면분석, 입계 및 계면의 상대적인 조성분석, 초진공 (X10-10 torr)에서 시편을 파괴하여 초청정 표면의 조성분석, 기타 표면에 존재하는 모든 원소(H, He제외)를 알 수 있음. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/c5jObnQoGB4pg90dcnHV_w600.jpg |
| 장비위치주소 | |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2016-12-235262 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kaist_analy-00002 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |