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장비 및 시설 기본정보
전계방사주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-7500F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-07-14 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 광주과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | Scanning Electron Microscope 는 고배율의 저자현미경으로 다양한 재료의 구조적 특성 관찰의 신소재 및 나노기술 연구에 절대적으로 필요한 기자재이다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20161025102522_20080714000000040921 NFEC-2008-07-079388.jpg |
| 장비위치주소 | 광주과학기술원 다산빌딩 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-07-079388 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0009139 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |