| 보유기관명 |
(주)모간 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
A400 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
전자가 시편에 조사되면 특정 엑스선이 방출되어 산란 및 전자흡수를 통해 원소종류 및 조성을 알 수 있음.
선면 분석 기능으로 정확한 위치의 분석 및 정량 정성의 재현성 및 정확한 분석이 가능 함. spectra match를 이용하여 peak중첩을 확인 삭제함으로서 정확한 정량 정성분석이 가능함. Q-map을 이용하여 3D형태로 성분표시가 가능함.spectral match & peak add/subtract 3D map display cooling system peltierBe(4)~U(92)까지 측정 pollished sample 거친표면 입자(P/B-ZAF) 얇은층(P/B-FILM)가벼운 원소(OLEQ)polished bulk sample측정 X-Ray 디지털 이미지화 3D 이미지 비주얼화 측정정확한 데이터 빠른 정보처리능력 탁월한 정량 정성분석다양한 고상 분말의 정량 정성분석이 가능함. 전자빔을 가해 시료로부터 발생되는 2차 전자에의해 시료의 표면의 미세구조 형태를 관찰하는 기기로 고체시료의 미세영역의 조성분포를 알 수 있다. 주사형 전자현미경에 EDS를 부착하여 사용하며 EDS는 각 물질에 에너지를 가할 경우 물질마다 고유의 특성 에너지가 발생하는 점을 이용하여시료의 정성·정량 원소의 분포도를 알 수 있다.빠른 시간내에 정성 분석이 가능하며 적은 양의시 거대분자 또는 복잡한 구조의 화합물인 경우구조 분석이 용이하다. |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201304/.thumb/20130408101550389.JPG |
| 장비위치주소 |
대구 달성군 논공읍 북리 1-14 (주)모간 기술연구소 F1 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2013-04-177514 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0037492 |
| 첨부파일 |
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