전계방사형주사전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JSM-6700F |
장비사양 | |
취득일자 | 2006-12-22 |
취득금액 |
보유기관명 | 경북대학교 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 전계방사형 주사전자 현미경(field emission scanning electron microscope) - 샘플 시료의 금속표면 관찰에 사용할수 있음. - 유기 무기 광물과 화석의 미세입자구조의 관찰에 사용 가능함. - 반도체 소자와 회로망의 품질검사에 용이하게 사용 가능함. - 고분자 및 유기물의 고배율 관찰에 용이함. - 생체시료와 식품시료의 미세구조 관찰에 사용 가능함. - magnification: 100x ~ 650000x - Accelerating Voltage : 0.5kV ~ 30kV - Resolution : 1.0nm(1.5kV) 2.2nm(1kV) |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110126162911.JPG |
장비위치주소 | 경북 상주시 가장동 경북대학교상주캠퍼스 386 경북대학교 상주캠퍼스 산학협력종합지원관 1층 101 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-139754 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0024488 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |