| 보유기관명 |
한국과학기술원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
B520 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
X선 회절 분석법은 샘플에 데미지를 주지 않으면서 고체나 박막샘플의 결정구조 화학적 조성 물리적 성질을 분석하는 기기이다. 이 기술은 샘플에서 산란된 빛의 세기 분산각 등을 분석한다. 빛을 쏘아주는 광원 샘플 홀더 디텍터로 구성되어 있으며 결정성물질의 결정구조를 분석하는데 탁월하다. 물질의 구조를 분석하는 여러가지 분석 방법 중에서 상당히 정확하고 신속한 분석이 가능하며 샘플에 데미지를 주지않기 때문에 샘플을 회수할 수 있다는 점에서 큰 경쟁력을 갖는다. 본 실험실의 경우 제올라이트의 결정성을 분석하거나 담지체 위에 담지된 금속의 크기를 분석하는데에 쓰이고 있다. 측정하는 샘플의 종류에 따라 샘플홀더의 모양 또한 다르다.
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| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201203/.thumb/20120323143655.jpg |
| 장비위치주소 |
대전시 유성구 구성동 373-1번지 한국과학기술원 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2012-03-157338 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0031659 |
| 첨부파일 |
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