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장비 및 시설 기본정보
저에너지전자회절기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Specs |
| 모델명 | ErLEED 150 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-06-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국표준과학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A400 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | Field-Emission Gun Secondary Electron Microscopy 로써 accelerating voltage 25kV 2nm specification resolution large depth of field 10-20mm magnification 20X~3000000X까지 조절 가능함. 또한 나노 구조 분석 및 성분 분석에 사용되어 짐. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110124180656.JPG |
| 장비위치주소 | 한국표준과학연구원 신소재동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-135920 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0023582 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |