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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-4300 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-02-23 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 인하대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B522 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 electron beam주사되면 이차전자가 detector에 의해 수집된다. 음극선관 cathod ray tube에 상을 형성하여 시편의 미세구조 및 성분분석 및 결정의 방위를 측정한다구성및성능 Resolution :1.5 nm Magnification :20X ~500000X Acc. Voltage : 0.5 to 30KV EDX detector EBSD detector활용분야 -금속 세라믹 고분자 생물시료 등의 미세구조와 결함특성 관찰 -시료의 미세영역의 화학적 정성 정량분석 -결정방위측정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201310/.thumb/20131007165837586.jpg |
| 장비위치주소 | 인천 남구 용현1,4동 인하대학교 253 인하대학교 5호관 1층 북118 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-04-051814 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0008071 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |