4프로브 시스템
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Kleindiek Nanotechnik |
모델명 | MM4-EM |
장비사양 | |
취득일자 | 2015-02-17 |
취득금액 |
보유기관명 | 울산과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A200 |
표준분류명 | 시험 |
시설장비 설명 | 1) 본 장비는 전자현미경에서 샘플의 나노 조작과 전기적 특성을 측정 평가하는 장비이다 2) 본 장비는 진공 챔버 내부에서 매니퓨레이터가 나노스케일 단위의 3축 동작 제어가 가능하여야 한다 3) 본 장비는 매니퓨레이터 장치가 SEM 의 진공챔버 도어 와 LOADLOCK을 통해서 진공 챔버 샘플 스테이지에 장착 할 수 있어야 한다. 4) 본 장비는 최대 4개의 매니퓨레이터를 장착할 수 있어야 하며, 각각의 매니퓨레이터에 장착되는 프로브 팁이 전도성 샘플의 표면에 접촉할 경우 접촉 여부를 알려주는 장치를 포함한다 5) 본 장비는 샘플 표면의 저전류를 측정 할 수 있어야 한다 6) 본 장비는 직경 100nm 이하 크기의 프로브 팁을 사용할 수 있어야 한다 7) 본 장비는 샘플을 X, Y 방향으로 움직일 수 잇는 초소형 스테이지를 포함한다 |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201503/2015031310442190.jpg |
장비위치주소 | 이차전지센터 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2015-03-200125 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0051000 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |