주사 탐침 현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Nanonics Imaging Ltd |
모델명 | ESCA 2000 |
장비사양 | |
취득일자 | 2014-12-03 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국표준과학연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A208 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | - 일반적인 Atomic force microscope (AFM)은 탐침을 이용해 시료의 형상을 측정하는데 사용되므로 광학현미경과는 구조적으로 매우 다르다. 따라서 시료에 대물렌즈를 가까이 가져가 탐침 끝에서 발생한 빛을 측정한다거나 탐침 끝에 고집속으로 레이저빔을 모으는데 큰 어려움을 보인다. 시중의 대부분 AFM 제품들은 시료 밑에서 레이저빔을 입사하는 방식으로 이 문제에 접근하는데 이는 시료가 투명한 경우에만 적용할 수 있는 방식이다. Park systems의 경우가 현미경 위에서 빛을 입사시켜 시료에 고집속으로 초점을 형성시키기가 어렵다. 이런 상황을 조금 개선한 제품이 오른쪽 그림에서 볼 수 있는 Asylum 의 Bio-AFM 과 같은 예인데, 빛을 약간 비스듬히 입사시켜 탐침에 의해 빛의 진행을 방해받는 상황을 피할 수 있게 하였다. 하지만 이 경우도 고집속의 초점을 형성시키기는 어렵다. 빛이 비스듬히 입사하므로 구조적으로 짧은 working distance의 high NA 대물렌즈를 사용하기가 불가능하다. 이런 문제를 해결해 주는 유일한 제품이 Nanonics Imaging, LTD 의 MV 2000 이다. 오른쪽 그림에서 볼 수 있는 것처럼 이 제품의 scanner는 일반 광학현미경의 sample stage와 같은 구조를 가지고 있어 시료의 위아래에서 High NA 대물렌즈가 접근하기가 쉽다. 실제적으로 NA0.8 대물렌즈를 시료 위쪽에서 접근시켜 광학이미지와 AFM 이미지를 동시에 측정할 수 있다. 따라서 시료가 투명하지 않아도 레이저빔이 탐침 끝에 잘 집속할 수 있다.Individual placement of tip and sample relative to the lens of the optical microscope for spatially controlling photo excitation and detection -MultiView 2000 TS -Two flat scanner piezo stages with up to 85 microns incorporating 24mm central opening -LabVIEW based Controller & Software -Supports various imaging modes including AFM(contact and non-contact), phase, error signal and NSOM -Up to 8 data channels can be read and imaged simultaneously -All ADCs are 16bit and DACs have 16bit resolution -Inbuilt lock-in amplifier -User friendly LabVIEW SPM based software for PCI-7344 -HP Compaq Elite 8300 CMT Desktop PC -Latest specification with Windows7 Professional 64bit -23“ LCD Monitor생체시료의 나노미터 국소영역에 대한 정밀하고 다양한 물리적 정보(힘,광특성,형상)를 나노탐침을 이용해 얻고 이를 넓은 시료영역에서 매핑하는 장비 anonics Imaging, LTD 의 MV 2000의 경우는 Probe feedback 방식이 일반적인 beam bouncing 뿐만아니라 Tuning fork 방식을 함께 사용할 수 있도록 설계되어 시료상황에 따른 선택의 폭이 넓다 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201412/.thumb/20141216131358746.JPG |
장비위치주소 | 대전광역시 유성구 가정로 267 (도룡동) 한국표준과학연구원 신소재동 2층 2200 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2014-12-194776 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0047482 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |