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장비 및 시설 기본정보
엘립소미터
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 엘립소테크놀러지 |
| 모델명 | Elli-SE-F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-11-19 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국교통대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A408 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 레이져를 시료에 조사하여 고유 굴절률을 계산하여 고분자 재료의 박막 두께 측정이 가능하며 고분자 이외에도 일정한 이중층을 가지는 박막층상 재료들의 두께 및 굴절율 정보들을 얻을 수 있다.Measuring constants film thickness n(λ) and k(λ) Thickness range 1Å~10um(depends on film type) Number of layers more than 10layers Wavelength 380~1100nm금속, 고분자, 세라믹 재료의 굴절률 측정과 두께측정 재료의 복굴절 현상과 비등방성 측정이 가능하며 비고분자 재료들도 일정한 이중층을 가지는 경우 상기 데이터들을 측정할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200809/.thumb/20080926110303.JPG |
| 장비위치주소 | 충청북도 충주시 대소원면 대학로 50 충주대학교 공동실험관 6층 613 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-09-068435 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0011279 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |