| 시설장비 설명 |
상온에서 비철계 시료, 특히 X-선 흡수계수가 작은 물질에 대해서만 측정/ 분석이 가능한 system
상온~1400도까지의 모든 온도영역에서 철계, 비철계 및 세라믹스 등 다양한 시료 에 대해 정밀한 분석1. Parallel beam optics: 시료에 조사되는 X-선을 모아주는 장치 2. High temperature stage: 3. 상온에서 1400℃까지 시료를 직접 가열하는 장치 4. Heater는 Ta이며, Eulerian cradle에 장착 가능 5. 고진공 펌프와 진공도 측정장치 부착 6. 챔버는 Be 반구형 돔으로 구성 7. Linear X-ray detector: X-선을 고속으로 검출하는 장치 (Scintillation counter보다 50~90배 빠름) 8. Co ceramic tube : 철계 시료 측정 시 형광 X-선을 감소시키기 위한 X-선 발생 장치 ㅇ Accessory - XRD 2θ-scan analysis S/W: 상분석용 - XRD texture analysis S/W: 집합조직 분석용 - Internal stress analysis S/W: 시료의 내부응력(잔류응력) 분석용 - JCPDS database S/W: PCPDF-2 이상null |
