투과전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JEM-2100F |
장비사양 | |
취득일자 | 2011-07-19 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A205 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | O 특성 CCD+EDXS+STEM를 동시에 수행할 수 있는 기능을 발휘하며 더불어 나노 바이오/유기 재료를 위한 Low dose technique기술을 제공함으로서 일반 금속 재료에서 나노 OLED/LCD/반도체/Solar 재료까지를 모두 완벽 수용할 수 있는 다목적 장비O 성능 1. ZrO/W Gun 채택하여 0.19nm point Resolution 2. Accelerating Voltage : 200KV 3. EDS(4Be~92U)성분분석 4. Piezo Movement 를 이용한 Stage Movement. 5. STEM Acquisition.철강 및 신소재 산업, 금속재료, 전자재료, 세라믹, 고분자, 석유화학 제품, 반도체 등의 거의 모든 산업에서 시료의 미소 영역을 확대하여 물질의 미세 구조, 격자 결함, 결정 구조를 확인 할 수 있으며, EDS 및 EELS를 장착하여 시료의 성분 원소 분석 및 정량 & 정성 분석을 할 수 있어서 연구 활동에 필수적인 장비 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201402/.thumb/20140210103644607.jpg |
장비위치주소 | 전남 순천시 매곡동 순천대학교 502-39 한국기초과학지원연구원 순천센터 순천대학교 공동실험실습관 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-09-147863 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0047494 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |