| 보유기관명 |
한국화학연구원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
A206 |
| 표준분류명 |
분석 |
| 시설장비 설명 |
특징 다중 PLA(Pressure Limited Aperture)를 사용하여 컬럼을 항상 고진공을 유지함으로서 시료를 탈수나 코팅하지 않고도 높은 해상력을 얻을 수 있으며 기존의 SEM에서는 불가능한 몇가지 detector의 사용으로 가스환경하에서도 선명한 SE image를 볼수 있게 되며 빛과 고온에서도 제약없이 전자를 검출할 수 있는 기술장비 기기입니다. |
| 장비이미지코드 |
https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20161018141824_200702070481 NFEC-2003-04-002485.jpg |
| 장비위치주소 |
한국화학연구원 10연구동 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2003-04-002485 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
https://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-krict_chem-00029 |
| 첨부파일 |
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