투과전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JEM-2100 LaB6 |
장비사양 | |
취득일자 | 2009-04-13 |
취득금액 |
보유기관명 | 울산과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A205 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 박편으로 제작된 시편에 고전압으로 가속된 전자빔을 조사시켜 전자빔과 시편의 상호작용에 의해서 일어나는 투과빔 회절빔을 이용하여 시료의 미세조직을 관찰하고 회절 패턴에 의한 결정구조해석을 수행한다. 본 장비를 통해 결정이나 계면 결함의 원자 배열을 원자 하나하나의 규모로 직접 육안으로 확인할 수 있다.Acceleration voltage : 200kV Lattice resoluition : 0.23nm Point resoluton : 0.14nm Specimen tilting : X=±35˚ Y=±30˚ Imaging recording system : CCD EDS resoluition : 132eVHigh resolution electron imaging Diffraction pattern Energy dispersive spectroscopy (EDS) : element analysis |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201209/.thumb/20120926112453.jpg |
장비위치주소 | 울산광역시 울주군 언양읍 유니스트길 50 울산과학기술대학교 자연과학관 1층 B104 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2012-09-171086 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0035063 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |