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장비 및 시설 기본정보
초미세이차이온질량분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Cameca |
| 모델명 | NanoSIMS 50 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-03-23 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B605 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 1. 50n크기의 일차이온빔을 시편에 주사시켜 방출되어지는 이차이온의 질량을 측정하여 고체시료 표면에 존재하는 미량 불순물의 분포 및 함량을 분석. 2. H He을 포함한 모든 Element 분석 가능. 3.ppm~ppb level의 미량 불순물 분석 가능.구성및성능 1. Ion Source: O- Cs+ 2. Spatial Resolution: 50nm 3. Parallel collection of up to 5 species 4. High mass resolution: M/dM > 5000활용분야 - 나노소재 바이오소재 지질학시료 - 나노소재 바이오소재 지질학시료 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201604/.thumb/2016040510583272.jpg |
| 장비위치주소 | 부산 강서구 지사동1274 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-07-071510 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0012973 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |