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장비 및 시설 기본정보
주사형검침현미경(주사탐침현미경)
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Veeco |
| 모델명 | MM-BASE-N93D |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-02-20 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 성균관대학교 자연과학캠퍼스 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 주사 탐침 현미경은 AFM 팁이나 광섬유 끝을 변형 시킨 프루브를 사용하여 주사(Scanning)하는 현미경이다. 이때 프루브는 연구하려는 물체의 표면과 상호작용을 함으로써 표면 상의 아주 작은 범위의 물리적 전기적 자기적 특성 등을 이해할 수 있다. SPM(Scanning Probe Microscope)은 일반적으로 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)을 칭한다. 이 두 가지 이외에도 많은 종류가 존재한다. 다른 종류의 예를 들면 MFM EFM LFM 등이 존재하며 종류에 따라 측정하는 힘이 다르다. 이 중 AFM은 탐침(tip)과 시료(sample)원자 간의 상호작용하는 힘을 측정한다.MultiMode V 구성 Computer Control Monitor Display Monitor NanoScope Controller Optical display Optical Fiber MultiMode SPM Scanner Specifications AS-130 (“J”) Scan Size : 125 x 125 um Vertical Range : 5 umDNA등 다양한 물질을 사용하여 실험에 사용되는 다양한 구조물 및 표면을 Multimode AFM을 사용하여 직접적으로 측정하는 작업에 쓰인다. STM 등과 달리 AFM은 특정 물성을 요구하지 않아 air와 fluid 상의 거의 모든 표면을 측정하는데 사용된다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201401/.thumb/20140120143138161.JPG |
| 장비위치주소 | 경기 수원시 장안구 천천동 성균관대학교자연과학캠퍼스 300번지 성균관대학교 자연과학캠퍼스 기초학문관 1층 51101C |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-01-185105 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0039555 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |