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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-6010LA |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2014-03-06 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 경상대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | - 기술의 진보와 함께 보다 미세 구조의 유기물 무기물 금속 또는 이들의 복합체의 형상과 구조에 대한 보다 정확한 이해가 필요하게 되어 주사전자현미경(SEM)은 고체 상태의 미세조직과 형상을 관찰하는데 매우 유용하게 사용되는 분석기기 중 하나임 - 주사전자현미경(SEM)은 해상도가 10~30A에 이르는 고분해능 기기이며 시료의 3차원적인 영상관찰이 쉬워 시료의 곡면 단면 입자 형태 등의 영상을 육안으로 관찰하는 것과 같이 보여 주며 X선 분석 장치를 부착하여 시료의 결정구조 화학 조성분석에 매우 효과적으로 활용이 가능함 - 주사전자현미경(SEM)은 나노기술의 발전 등 과학기술의 고도화 및 미세화로 인해 더욱 다양한 용도로 활용되고 있으며 반도체/디스플레이 나노 융합기술 신소재 기계부품 생명과학 등 첨단산업 전 분야의 R&D 품질관리 교육을 위한 기반 인프라 기술임- Resolution (HV) : 4.0nm @ 20kV 8nm (3kV) 15nm (1kV) - Resolution (LV) : 5.0nm @ 20kV - Magnification : x5 to x300000 - Acceleration voltage : 0.5 to 20kV - LV detector : BSED (std.) LV-SED (option) - LV pressure : 10 to 100 Pa - Specimen stage : LGS - Eucentric - X / Y : 80/40mm - Z (WD) : 5～48mm - T : －10° to +90° - Maximum specimen size : Observation：125mm Maximum：152mm Height：49mm - PC : Notebook or Desktop Type (Touch Screen) - Display size : TBD - Frame Store : 640×480 1280×960 2560×1920 5120×3840 - GUI Display : 1280×800 - EDS : Standard (LA Version)- Topography (물체의 표면의 형상을 관찰) - Morphology (물체를 구성하는 입자들의 형상과 크기 관찰) - Composition (물체를 구성하는 원소와 화합물의 종류 및 상대적인 양을 분석) - Crystallography (재료 내 원자들의 배열상태 분석) |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201403/.thumb/20140324161579.jpg |
| 장비위치주소 | 경남 통영시 천대국치길 38 경상대학교 산학협력선도대학육성사업단 해양과학관 6층 602호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-04-186575 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0042552 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |