전계방출주사전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Hitachi |
모델명 | S-4300 |
장비사양 | |
취득일자 | 2006-03-22 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국나노기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 특징 - 80K 및 상온온도 영역에서 온도변화에 따른 CL 측정기술개발 - 200~900nm의 영역에서 CL Spectrum을 측정하고 Panchromatic 및 monochromatic CL image 측정기술 - SEM 전자빔의 power를 고정시키고 전자빔의 가속전압을 변화시켜 전자의침투 깊이에 따른 CL 특성을 측정하여 물질의 깊이 방향에 따른 광학적 특성 변화 측정기술구성및성능 - 장비 모델: Gatan Mono CL3 - 설치된 SEM 모델: Hitachi S-4300SE 1.Spectral range: 200 ~ 1800 nm 2.Temperature capability: 80 ~ 300 K 3. High sensitivity peltier-cooled PMT detector (165nm to 930nm) with integral pre-amplifier Ge detector 4. Electron beam induced current (EBIC) 5. Temperature capability: 80 ~ 300 K활용분야 SEM 을 통한 image 확인 및 spectrum 분석 ==================================================================== |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200910/.thumb/NFEC-2009-10-078985.jpg |
장비위치주소 | 경기도 수원시 영통구 광교로 109 (이의동) 한국나노기술원 한국나노기술원 한국나노기술원 지하1층 특성평가실 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2009-10-078985 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0017538 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |