| 보유기관명 |
한국과학기술연구원 |
| 보유기관코드 |
|
| 활용범위 |
|
| 활용상태 |
|
| 표준코드 |
A206 |
| 표준분류명 |
시험 |
| 시설장비 설명 |
Focused Ion Beam을 이용하여 TEM preparation 및 cross section 관찰을 위한 시편 준비를 할수 있으며 EDS와 EBSD를 동시에 이용가능하며 FIB EDAX와 EBSD를 이용하여 시편의 한가지 방향성을 알고 있다면 그 방향성에 해당하는 시편 부분을 측정하여 3D 입체 영상으로 제작하는것 또한 가능한 장비이다. |
| 장비이미지코드 |
https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160926132636_20140429000000172164 NFEC-2014-04-187080.jpg |
| 장비위치주소 |
한국과학기술연구원 전북분원 연구동 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2014-04-187080 |
| 예약방법 |
|
| 카타로그 URL |
|
| 메뉴얼 URL |
|
| 원문 URL |
https://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KIST-00046 |
| 첨부파일 |
|
