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장비 및 시설 기본정보

광대역 샘플링 오실로스코프

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Agilent Technologies
모델명 86100C
장비사양
취득일자 2010-12-21
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 D105
표준분류명
시설장비 설명 Agilent 861000C Infiniium DCA-J wideband sampling oscilloscope는 50 MHz ~ 80GHz 신호 특성을 시간 영역에서 실시간(real-time)으로 산생된 신호의 정확한 파형을 측정을 할 수 있다. 또한 지터(jitter) 및 간섭 분석기의 기능이 있어 지터측정을 통해서 QVCO의 Phase Noise를 측정할 수 있기 때문에 저전력 저잡음 QVCO를 목표로 하는 연구에 꼭 필요한 장비이다. QVCO를 이용하여 송수신용 PLL과 CDR등의 시스템을 개발할 예정인데 이 시스템들은 지터특성분석이나 아이 다이어그램(eye diagram) 분석을 시스템의 성능을 테스트 하여야 하는데 이 장비는 이러한 기능들을 포함하고 있다. 총 지터 임의 지터 결정성 지터 주기적 지터 데이터 의존적 지터 듀티 사이클 왜곡 및 기호 간 간섭(ISI)에 의해 유도된 지터를 측정할 수 있고 비트 레이트의 정수 서브 레이트에 위치한 주기적 지터인 서브 레이트 지터의 분리 및 분석을 할 수 있다. 또한 클럭 또는 데이터 신호에 대한 지터 스펙트럼/위상 노이즈를 측정할 수 있다. 또한 TDR/TDT기능을 통해 주파수 영역에서 차동 또는 싱글 엔드의 s-파라미터 분석이 가능하다.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201108/20110802154535.jpg
장비위치주소 한국과학기술원 나노종합팹센터
NFEC 등록번호 NFEC-2011-08-146851
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0029597
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)