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장비 및 시설 기본정보
파장 분산형 X-선 형광 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Rigaku |
| 모델명 | ZSX Primus II |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-12-20 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B522 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 형광 X선 분석법(X-ray fluorescence analysis XRF)은 시료에 X선을 조사해 2차적으로 발생하는 X선(형광 X선)을 이용해서 원소의 정성ㆍ정량 분석을 하는 방법이다. 이 형광 X선 분석법은 각종 원소 분석법 중에서도 대표적인 방법의 하나로 이며 여러 가지 재료의 평가분석 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201302/20130208151425932.jpg |
| 장비위치주소 | 한국화학연구원 그린정밀화학연구센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-02-175442 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0036870 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |