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장비 및 시설 기본정보

투과전자현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Jeol
모델명 JEM-3010
장비사양
취득일자 1997-06-30
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술원 신소재공학과
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A205
표준분류명
시설장비 설명 투과전자현미경(Transmission Electron Microscope, 모델명:JEM-3010)은 고속으로 가속된 전자를 광원으로 사용하며 수 pm 정도의 매우 짧은 파장의 전자선을 수 micrometer정도의 두께로 얇게 만든 재료(metal, ceramic, semiconductor등의 bulk, thin film, powder 형태의 시편)에 투과시킨 후 자계렌즈를 이용하여 수 백만 배 이상으로 확대하여 계면(Interface) 전위(Dislocation), 적층 결함(Stackingfaults), 석출물, 쌍정, 두께, 결정립미세형상, 등의 각종 결정 결함의 크기와 형태를 직접 눈으로 관찰할 수 있으며, 회절도형(Diffraction Pattern)으로 재료의 아주 미소한 영역의 여러 성질에 미치는 전자회절상을 얻을 수 있어 결정성, 격자상수 및 결정면 간격 측정, 대칭성 분석을 하여 결정 구조 분석을 할 수 있음.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201501/201501061749488.jpg
장비위치주소 한국과학기술원 응용공학동(W1-1)
NFEC 등록번호 NFEC-2015-01-195422
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-mse-00014
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)