투과전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JEM-3010 |
장비사양 | |
취득일자 | 1997-06-30 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국과학기술원 신소재공학과 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A205 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 투과전자현미경(Transmission Electron Microscope, 모델명:JEM-3010)은 고속으로 가속된 전자를 광원으로 사용하며 수 pm 정도의 매우 짧은 파장의 전자선을 수 micrometer정도의 두께로 얇게 만든 재료(metal, ceramic, semiconductor등의 bulk, thin film, powder 형태의 시편)에 투과시킨 후 자계렌즈를 이용하여 수 백만 배 이상으로 확대하여 계면(Interface) 전위(Dislocation), 적층 결함(Stackingfaults), 석출물, 쌍정, 두께, 결정립미세형상, 등의 각종 결정 결함의 크기와 형태를 직접 눈으로 관찰할 수 있으며, 회절도형(Diffraction Pattern)으로 재료의 아주 미소한 영역의 여러 성질에 미치는 전자회절상을 얻을 수 있어 결정성, 격자상수 및 결정면 간격 측정, 대칭성 분석을 하여 결정 구조 분석을 할 수 있음. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201501/201501061749488.jpg |
장비위치주소 | 한국과학기술원 응용공학동(W1-1) |
NFEC 등록번호 | NFEC-2015-01-195422 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-mse-00014 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |