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장비 및 시설 기본정보
STEM용 수차보정 투과전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JEM-ARM200F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-10-06 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A205 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 본 수차보정 투과전자현미경은 기존 투과전자현미경 기능 외에 추가로 주사전자빔의 분해능이 보정되어 향상된 주사투과전자현미경 분석이 가능한 장비임. 추가로 실시간으로 열적,전기적,기계적 환경을 인가하여 나노재료의 동적인 변화를 관찰하고 연구할 수 있는 장비임. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160831143111_20151008000000194796 NFEC-2015-10-205355.jpg |
| 장비위치주소 | 한국기초과학지원연구원 전주센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-10-205355 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0058795 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |