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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-3000H |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-01-26 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국건설생활환경시험연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 1. Resolution : 3.0nm or better guaranteed at 25kV or 30kV 2. Magnifications 1) x5 - x300000 or wider 2) Digital display on LCD 3) Pre-settable mag. points : Pre-settable 3. Accelerating voltage : 0.3 - 30kV (53 steps or better) 4. Electron Optics 1) Filament Tungsten (W) hairpin type (Pre-centered cartridge exchange method Easy to exchange the filament) 2) Bias System Auto-bias (Continuous Variable) Linked with acc. voltage plus continuous voltage control 3) Anode Fixed Position System or better 2 Stage electromagnetic deflection 4) Gun Alignment Auto Gun Alignment (AGA) or equivalent 5) Stigmator 8 pole electro-magnetic type Automatic and manual stigmatism correction Optimum Stigma memory 6) Focus One touch automatic -focus function Coarse and fine Auto/manual focusing Focus wobbler built-in (in TV mode) Focus memory function Focus search function 7) Scanning Coil 2 stage electro-magnetic beam deflector구성및성능 고분자 콘크리트 도료 미세구조활용분야 재료의 미세조직 분석 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200808/.thumb/20080811170534.jpg |
| 장비위치주소 | 서울 금천구 가산동 459-28 한국건설생활환경시험연구원 가산시험동 1층 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-08-063770 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0009454 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |