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장비 및 시설 기본정보
대면적 OLED 면광원 결함 제어 시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 참엔지니어링 |
| 모델명 | CLR2000G |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-06-30 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A0 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 1. Large OLED Lighting에 발생되는 Defect 제어로 시제품의 고신뢰성 광원 제작 :보조 전극 Under-cut에서 발생 가능한 Hot spot 선행 제거 :생산된 시제품의 Particle,Dark spot,Hot spot 등의 결함 제거 2. Large OLED Lighting 의 시제품의 AOI 특성 측정/분석 및 검증 :Open&Short,Pinhole,Defact 등의 검사 :Measurement - 길이,각도,면적,3D,Graph,Chart 등 가능 :실시간 라이브 측정 기능 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201507/20150713102136916.jpg |
| 장비위치주소 | 한국생산기술연구원 나노기술집적센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-07-203693 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00817 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |