주사탐침 현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | ㈜파크시스템스 |
모델명 | XE-100 |
장비사양 | |
취득일자 | 2005-10-19 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A208 |
표준분류명 | 분석 |
시설장비 설명 | - 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 극히 미세한 탐침을 시료표면 가까이 가져갔을 때 생기는 원자간의 상호 작용력을 측정함으로써 시료표면의 3차원적 형상을 알아내는 장치로써 원자현미경의 장점은 원자 지름의 수 십 분의 일(0.01nm) 까지도 측정해 낼 수 있는, 최고 수천만배로서 개개의 원자까지도 관찰할 수 있는 분해능력. - 일반 대기 중에서 시료표면의 전처리 과정 없이, 즉, 도체, 반도체 및 부도체에 상관없이 3차원 형상을 측정함으로써 폭, 높이, 각도, 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며, 액체 내에서도 작동하므로 살아있는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있으며, 또한 시료의 전기적, 자기적(磁氣的), 물리적 특성, 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변형(Nanolithography, Nanomanipulation) 을 할 수 있는 장비 |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201310/2013101011332625.jpg |
장비위치주소 | 한국생산기술연구원 연구1동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2005-11-044093 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00057 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |