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장비 및 시설 기본정보

주사탐침 현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 ㈜파크시스템스
모델명 XE-100
장비사양
취득일자 2005-10-19
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국생산기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A208
표준분류명 분석
시설장비 설명 - 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 극히 미세한 탐침을 시료표면 가까이 가져갔을 때 생기는 원자간의 상호 작용력을 측정함으로써 시료표면의 3차원적 형상을 알아내는 장치로써 원자현미경의 장점은 원자 지름의 수 십 분의 일(0.01nm) 까지도 측정해 낼 수 있는, 최고 수천만배로서 개개의 원자까지도 관찰할 수 있는 분해능력. - 일반 대기 중에서 시료표면의 전처리 과정 없이, 즉, 도체, 반도체 및 부도체에 상관없이 3차원 형상을 측정함으로써 폭, 높이, 각도, 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며, 액체 내에서도 작동하므로 살아있는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있으며, 또한 시료의 전기적, 자기적(磁氣的), 물리적 특성, 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변형(Nanolithography, Nanomanipulation) 을 할 수 있는 장비
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201310/2013101011332625.jpg
장비위치주소 한국생산기술연구원 연구1동
NFEC 등록번호 NFEC-2005-11-044093
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00057
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)