엘립소메터
기관명 | ZEUS |
---|---|
장비번호 | |
제작사 | 엘립소테크놀러지 |
모델명 | Elli-SE(UV)-F |
장비사양 | |
취득일자 | 2008-04-23 |
취득금액 |
보유기관명 | 포항공과대학교 |
---|---|
보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A408 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 특징 재료의 파괴없이 두께 및 n k 값 측정이 가능하다는 장점이 있고 얇은 막에 대한 감도가 좋다. 박막의 물리적 상태에 따라 n p 편광상태가 달라지는 성질을 이용한 측정방법이다. 유전체에 대한 수학적 모델을 이용하여 실험값과의 fitting을 통해 박막의 특성분석을 진행한다.구성 및 성능 Light source Optical fiber Polarizer Analyzer Monochromator Detector 등의 파트로 구성되어 있다. 1. Wavelength Range : 380nm ~ 1000nm (UV Option : 220nm ~ 1000nm) 2. Measurement Spot : ≤ 1.5mm 3. Thickness range : 1� ~ 10μm(depends on film type) 4. Number of layer : Up to 0layer (depends on film type) 5. Throughput : 15 ~ 20Sec. per point (depends on film type) 6. Reproducibility : ±0.3� on 10 times measurement 7. Precision : 1�활용분야 박막의 굴절률(Refractvie index) 및 흡수계수(Extinction Coefficient)를 측정 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200806/.thumb/20080602171938.jpg |
장비위치주소 | 경북 포항시 남구 효자동 산27 포항공과대학교 연구3동 1층 3102호 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2008-06-056067 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0008529 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
---|---|
ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |