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장비 및 시설 기본정보
전자파과도시험시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Teseq |
| 모델명 | NSG 3040 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-03-22 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 부산테크노파크 스마트전자부품기술지원센� |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | D106 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 전자제품이나 전자부품의 운용시 발생할 수 있는 여러가지 노이즈에 대한 제품 특성을 알아보기 위한 장비. 정전기 버스트 서지 임펄스 시험기등 다양한 장비를 이용한 복합 테스트 장비.System Composition 1. 본체(Main body) - Transient 시험 시스템(정전기/버스트/서지/임펄스시험기) 1set - EMC 스캐너 1set 2. accessories - 정전기(ESD) 시험 환경 설비 : Table Horizontal Coupling Plane Ground Cable Insulation Sheet Vertical Coupling Plane Ground Plane(각 1ea) - 버스트(EFT) 시험 환경 설비 : Table(1ea) Pallet(3ea) Ground Plane(1ea) - 서지(Surge) 시험 환경 설비 : Connecting Terminal Base Noise Isolation Trans(1ea) - 임펄스(Impulse) 시험 환경 설비 : Ground plane Noise Isolation Trans.(1ea) - EMC 스캐너 : Near Field Probe Set(H-Field(4ea) E-Field(1ea) - 노트북(최신사양) (1ea) - 사용자 매뉴얼 (2ea) Specifications 1. 정전기방전 내성 시험 - IEC61000-4-2 EN61000-4-2 K61000-4-2 규격 적용 - Contact discharge : 2kV - 8kV 이상 Air discharge : 2kV - 15kV 이상 - Pulse network : 150pF/300Ω per IEC61000-4-2 방전저항: 330Ω±10% - Test Table with HCP & VCP Ground cable with resistors 2. 버스트 내성 시험 - IEC61000-4-4 EN61000-4-4 K61000-4-4 규격 적용 - Pulse amplitude : 0.5kV - 4kV 이상 Burst Frequency : 5kHz - 100kHz - Pulse conforms to IEC/EN610004-4 Polarity : Positive/negative/alternate - Rise Time : 5ns±30% Pulse Width : 50ns±30% Burst/EFT coupling clamp per IEC 610004-4 - Phase synchronization : asynchronous synchronous 0 ~ 359 deg 3. 서지내성 시험 - IEC61000-4-5 EN61000-4-5 K61000-4-5 규격 적용 - Pulse amplitude : 0.5kV - 4kV±10% 이상 0.01kV Step - Combination wave : 전압(1.2/50us) 전류(8/20us) Pulse conforms to IEC/EN610004-5 - Polarity : Positive/negative/alternate - Calibration & Measurement Accessories : High Voltage Differential Probe 5kV Current Sensor - Phase synchronization : asynchronous synchronous 0 ~ 359 deg 4. 임펄스내성 시험 - Pulse amplitude : 0.01kV - 4kV±10% 이상 0.01kV Step ±0.04kV allowance for <0.1kV Setting - Polarity : Positive/negative Output impedance : 50Ω Rise time : <1ns - Pulse Width : 50 100 200 400 500 800 1000ns±10% - Polarity : Positive/negative/alternate - Pulse repetition mode : Variable : 16ms - 999ms±10% Phase : Injection phase angle 0 - 360deg 5. EMC 스캐너 - XYZ 3축 이동 스캔 - 전자파 노이즈의 발생원인과 경로를 3차원 그래프로 표시 - Scan Table Dimension : 700(X) x 600(Y) x 700mm(Z) or more - Scan Area : 400mm(X) x 250mm(Y) x 200mm(Z) or more - Measurement Frequency Range : 30MHz - 3GHz or more - Probe type : E-field probe & H-field probe - Scan Area Selection : Single reference Rectangle Area Polygon Area 등 - Driver Software : Constant distance auto scanning from EUT surface Constant(absolute)level scanning 2D chart 3D chart & Sheet - Including spectrum analyzer : up to 3GHz or more동일 센터의 전자파과도시험용 쉴드룸에서 테스트 가능. 노이즈에 대한 특성을 알아보고자 하는 모든 전자제품 및 부품에 적용 가능. 시제품의 노이즈 특성이나 최적 구동환경 테스트에 용이. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201305/.thumb/20130529111316618.JPG |
| 장비위치주소 | 부산 강서구 지사동 1277 부산테크노파크 스마트전자부품기술지원센터 F1 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-05-179401 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0039252 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |