주사탐침현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Agilent Technologies |
모델명 | 5500 |
장비사양 | |
취득일자 | 2009-04-15 |
취득금액 |
보유기관명 | 울산과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A208 |
표준분류명 | 시험 |
시설장비 설명 | AFM은 물질 표면의 형상을 원자 수준의 분해능으로 측정할 수 있는 장비이다. AFM은 탐침을 시료 표면 위 로 근접시켰을 때 시료 표면에 분포하는 원자와 탐침 끝의 원자 사이에 작용하는 매우 작은 힘이 cantilever 라는 스프링에 전달된다. 스프링에 전달된 힘은 스프링을 휘게 하고, 이 스프링에 레이저를 입사시켜 반사된 빛을 위치센서(position sensitive photodiode)로 읽어 시료에 대한 표면 정도를 알아낸다. 따라서 AFM은 탐침이 시료 표면을 각각의 위치를 옮겨 다니면서 원자 간의 힘을 측정함으로써 각 점에서 높이에 대한 정확한 정보를 얻는다. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201209/20120928103318.jpg |
장비위치주소 | 울산과학기술원 108동(자연과학관) |
NFEC 등록번호 | NFEC-2012-09-171225 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0060035 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |