X-RAY SPECTROMETER(X-선 형광분석기)
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JEM-2100 LaB6 |
장비사양 | |
취득일자 | 2006-05-23 |
취득금액 |
보유기관명 | 포항공과대학교 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A205 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 특징 X선 분광광도계 또는 X선 분광계라고도 하며 X선 분광분석에 이용한다. X선 광원과 분광계 및 검출장치의 3부분으로 이루어졌다. X선 광원으로는 주로 쿨리지관을 사용한다. 분광기로서는 적당한 회절결정을 사용하며 결정면을 기울이고 알맞은 회절각을 주어 파장을 선택한다. 검출장치로서는 γ선의 검출과 마찬가지로 가이거-뮐러계수관 등을 사용한다. X선분광기의 측정 파장 범위는 대체로 0.01∼10㎚(나노미터)이다. 에너지분석 방법에 따라서 크게 파고분석법·단결정법·회절격자법 등으로 나눌 수 있다.구성및성능 HT Tankcable진공펌프승압발생장치고압 발생장치활용분야 원소분석 상태분석 정량분석 수직분포 분석 절연물질 분석 유기화합물 분석 등 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110124204011.jpg |
장비위치주소 | 경북 포항시 남구 효자동 산27 포항공과대학교 제1공학관 1층 110 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2007-11-048074 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0007521 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |