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장비 및 시설 기본정보
초저전류 측정 원자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | ICON / L-Trace II |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2014-07-14 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 기초과학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | 탄소 신소재 개발과 2D 재료의 새로운 물성을 연구하기 위해서는 재료 표면의 기하학적 구조를 수 nm 수준의 분해능으로 확인하고 시료의 전도성 및 기계적 성질을 측정 본 장비는 시료 표면의 구조를 확인하는데 가장 효율적이고 널리 쓰이는 AFM 기능을 가지고 있고 기존의 일반적 AFM으로는 측정이 불가능한 Ultra-low current 측정모드를 통해 50pN의 매우작은 힘으로 미세한 영역의(100fA 미만) current를 고해상도로 측정할 수 있다. CNT Nanographene등의 탄소기반 신물질에서 ultra-low current. adhesion modulus등의 Mapping 및 다양한 전기적 Current와 nanomechanical 및 nanoelectrical properties을 측정 가능하다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20161025162545_20140827000000176927 NFEC-2014-08-191071.jpg |
| 장비위치주소 | 울산과학기술대학교 101동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-08-191071 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201712212586 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |