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장비 및 시설 기본정보
전계 방사 주사형 전자 현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-7600F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-09-29 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 EEWS대학원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | SEM을 이용한 분석은 메조다공성 물질에 내제되어있는 crystalline의 symmetry의 관찰 뿐만 아니라 표면에 노출된 좋은 구조에 대한 정보도 관찰되어 진다. 이 장비에는 EDS(Energy Dispersive Spectroscopy)가 설치되어 있으며, 이를 통해 물질의 조성을 관찰 할 수 있다. 또한 Cross-section Polisher가 구성되어 있어, 원하는 물질을 Ar ion beam을 이용하여 polishing하여 단면을 관찰할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160829142926_20110112000000094501 NFEC-2011-01-132488.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술원 교육지원동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-132488 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KAIST EEWS-00012 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |