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장비 및 시설 기본정보

입도분석기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Otsuka Electronics
모델명 ELS-Z2
장비사양
취득일자 2008-06-17
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국표준과학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B701
표준분류명 시험
시설장비 설명 특징: 콜로이드 입자의 분산 응집성, 상호작용과 표면 개질의 지표가 되는 제타 전위 및 입자 크기 분포를 동적 및 전기영동 광 산란법으로 측정 가능한 제타 전위 입자 크기 측정 시스템이다. ELSZ 모델은 기존의 희석 용액뿐 아니라 고농도의 나노입자에 이르기까지 다양한 샘플의 측정이 가능하다. 본 연구실에서는 측정 시스템의 강건성을 유지하기 위해 ELSZ를 입자 크기 분포 분석 전용으로 사용 중이며 입자 크기는 누율누적적률 분석법(Cumulants analysis, ISO13321 Part8)을 이용한다. 구성: 레이저Doppler법(동적 전기영동 광 산란법) 광학계와 반도체 레이저 광원을 사용하며 입자의 동적 및 정적 광 산란을 광전자 증배관(photo-counting 방식)으로 검출한다. 측정 목적과 측정입자의 크기에 따라 단형 셀, 고 농도계 셀, 각셀, 평판시료용 셀을 사용한다. 성능: 운전 가능한 온도는 10~90°C로서 0.6nm~7m 입자의 크기 및 -10~+10μm.cm/sec.V 범위의 전기이동도를 가지는 입자의 제타 전위 및 입자 크기 측정이 가능하다. 활용분야: 계면화학, 무기물, 반도체, 고분자, 생물, 약학, 의학분야 등의 미립자뿐만 아니라 필름 및 평판상태 시료(평판시료용 셀 이용)의 표면과학을 취급하는 기초연구, 응용연구에 활용 가능하다.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201104/20110413151004.JPG
장비위치주소 한국표준과학연구원 301동
NFEC 등록번호 NFEC-2009-06-071401
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KRISS-00019
첨부파일

추가정보

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ICT 기술분류
주제어 (키워드)