주사탐침현미경
기관명 | ZEUS |
---|---|
장비번호 | |
제작사 | Veeco |
모델명 | Dimension 3100 |
장비사양 | |
취득일자 | 2009-07-09 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
---|---|
보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A208 |
표준분류명 | 계측 |
시설장비 설명 | 과제명:나노기반 혁신 탄소소재 개발(장비구입) 주관기관명:한국과학기술연구원 연구책임자:김준경 과제번호:2Z03261(30104) 특징 - 본 장비를 이용하여 전기적 특성을 특정할 수 있는 EFM, SPoM 기능을 탑재하고 있어 본 장비를 이 용한 다양한 전기적 특성을 측정할 수 있으며, Lateral Force, Phaselmaging등의 다양한 물리적 특 성을 측정할 수 있음 구성 및 성능 - latge Stage SPM (Sample Stage : 150mm 직경, Tip Scan 방식의 TrakScan lenz장착) 활용분야 - 본 기기는 탐침(Tip)의 원자와 시료의 원자 사이에 작용하는 힘을 이용해 캔틸리버를 취게 하는 힘이 발생하고, 이정보들을 귀환뢰로에 의해 정밀 제어 각 지점(x,y)을 이동하면서 힘이 일정하게 유지되도록하여 시료 표면의 삼차원 영상을 원자단위의 크기로 얻을수 있도록 한다. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201109/20110919173312.jpg |
장비위치주소 | 한국과학기술연구원 전북분원 연구동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2009-08-071909 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0055682 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
---|---|
ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |