| 보유기관명 |
한양대학교 ERICA캠퍼스 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
C522 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
소자의 미세한 발광을 측정할 수 있는 장비로서 소자의 발광집중현상을 통해 결함을 분석할 수 있다. 이는 cooled ccd를 이용하여 측정하다. 소자의 특성을 파악하는데 많은 정보를 제공한다.파장에 따른 필터를 보유하고 있어 파장에 따른 광소자의 emission을 측정하여 분석할 수있다. 5 10 20 배 렌즈를 이용하여 소자의 크기에 맞게 측정 가능하고 프루브도 이용가능.led의 turn-on 전에 상당하는 전류를 인가하여 발광 신호를 측정하여 공간적으로 발광의 집중도를 확인할 수있다. 이는 소자의 신뢰성이나 특성 연구 공정의 문제점 등에 많이 이용된다. |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201407/.thumb/20140710161445947.jpg |
| 장비위치주소 |
경기 안산시 상록구 사3동 한양대학교 1271번지 한양대학교 안산캠퍼스 공장형실험동 2층 209 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2014-07-189966 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0043238 |
| 첨부파일 |
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