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장비 및 시설 기본정보

레이저 입도분석기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Microtrac
모델명 MICROTRAC S3000
장비사양
취득일자 2002-04-02
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국화학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B702
표준분류명 계측
시설장비 설명 기능 - 일정파장의 Laser beam 이 입자 표면에 도착하면 회절 (diffraction) 굴절 (Refraction) 반사 (Reflection) 등 산란 현상이 일어난다. 회절 현상은 빛의 진행 방향으로 낮은 각도에서 일어나며 굴절과 반사는 높은 각도 쪽에서 많이 일어난다. 산란 강도는 입자의 크기에 비례하고 산란각은 입자 크기에 반비례한다는 원리를 이용한다.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20161018161809_20110128000000102733 NFEC-2011-01-139267.jpg
장비위치주소 한국화학연구원 1연구동
NFEC 등록번호 NFEC-2011-01-139267
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0025261
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)