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장비 및 시설 기본정보
가시광-원적외광 영역 저온 분광시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 동우옵트론 |
| 모델명 | 모델명 없음 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-04-06 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B510 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 나노구조 반도체의 광특성을 측정하기 위한 시스템으로 시료의 온도가변범위는 4K-300K이며 측정파장 영역은 0.37um-500um임. 구성및성능 - 분산형 monochromator - scan형 monochromator |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201310/20131023111624437.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 연구동(L1) |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2006-05-022762 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0049962 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |