| 시설장비 설명 |
특징 - 비접촉 3차원 표면형상 및 표면조도 측정 - 해상도: 서브 나모미터 구성및성능 - Vertical scan range : 0.1nm~1mm - Vertical scan speed : 7.2um/sec - Vertical resolution : 0.1nm - Instrument repeadability : 0.1nmRMS -Measurement array : 736X480 - Field of view lenses : 0.5X, 1X, 2.0X - Objectives : 5X, 10X, 50X - Max stage tra 활용분야 광통신부품 패키징 재료의 표면조도 측정, 전극, 솔더 층 두께측정 ○ 한국전자통신연구원 호남권연구센터(광주)에서는 광융합 제품 특성측정 및 신뢰성 시험지원을 실시하고 있습니다. * 국제공인시험지원(A2LA 인증지원) -특성시험 : 삽입손실, 대역폭 등 40개 항목 -신뢰성시험 : 고온저장, 충격시험 등 15개 항목 -시험규격 : Telcordia, IEEE, MIL-STD 등 66개 -미국시험소인정기구인 A2LA의 로고사용으로 미국, 일본, 중국 등 해외시장 진출이 용이한 국제공인 시험성적서 제공 가능 * 담당 : 윤광수 선임기술원 TEL: 062-970-6612, E-mail: yks0604@etri.re.kr |
