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장비 및 시설 기본정보
IVL 측정 시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | (주)엘엠에스 |
| 모델명 | 모델명 없음 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-12-30 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A400 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | LED IVL측정시스템은 차세대 디스플레이로 각광받고 있으며 OLED의 소자 특성 평가에 필수적인 OLED IVL 시스템은 380~780nm 영역의 Spectrum 휘도 색좌표 색온도 등을 내장되어 있는 128 Array의 고정밀 Photodiode를 이용하여 정확하게 측정할 수 있다 OLED LED시료의 Voltage Current Luminance의 상관관계를 측정하여 광원의 특성분석을 자동으로 수행하여 주는 System입니다. IVL system은 detector SMU Motion stage Jig Dark box와 LMS IVL software로 구성되며 LMS의 IVL software로 통합 control하므로 편리하게 시료의 전기 광학적 특성을 손쉽게 분석할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201405/2014052713398109.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 전북분원 연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-05-188750 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0044492 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |