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장비 및 시설 기본정보
THIN FILM INDENTATION SYSTEM-NANO INDENTOR XP
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | NANO Indentor Xp |
| 모델명 | |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1998-01-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 구성및성능 - 수백 A。이내의 박막의 기계적 설질 측정 가능 - CSM Unit을 이용하여 정밀하고 연속적인 기계적 성질 측정 가능 - 추후 구입 예정인 Accessory를 이용하면 접착력도 측정 가능활용분야 박막의 기계적인 성질 측정용으로 재료의 기본문성을 측정하는 장비임. Diamond 박막 DLC LCD FED 자기기록매체 자기기록용 Head |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201309/.thumb/2013090315753766.jpg |
| 장비위치주소 | 신소재 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-1999-06-022087 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0015964 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |