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장비 및 시설 기본정보
발광균일도측정시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Konica Minolta |
| 모델명 | CA-2000 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-02-25 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 전자부품연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A400 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 1. 주요 특징 - 본 장비는 디스플레이 및 조명의 광학적 특성을 평가하는 장비로 대면적의 소자의 발광 균일도를 측정함 및 휘도 색좌표 등 다양한 광학적 특성을 평가함으로서 소자 설계 및 공정 개발에 지원함. - 특히 OLED 조명에서 전극의 설계에 따라 발광 특성에 많은 영향을 주며 이에 따라 본 장비를 활용하여 전극 설계 최적화를 지원함.2. 주요 구성 - 휘도 측정기 샘플 지그 측정 프로그램 3. 주요 사양 - 샘플 사이즈 : Max. 200*200mm - 휘도 측정기: CA2000 - 측정 휘도 범위 : 0.1~100000 cd/m2 - 측정 정밀도 : 휘도 +/-3% 색도 +/- 0.005 - 반복 재현성 : 휘도 +/- 0.5% 색도 +/- 0.0014. 주요 용도 - OLED 기반의 면조명 발광 균일도 측정 - LED & 디스플레이 발광 균일도 측정 및 특성 평가 - 본 장비는 디스플레이 및 조명의 광학적 특성을 평가하는 장비로 대면적의 소자의 발광 균일도를 측정함 및 휘도 색좌표 등 다양한 광학적 특성을 평가함으로서 소자 설계 및 공정 개발에 지원함. - 특히 OLED 조명에서 전극의 설계에 따라 발광 특성에 많은 영향을 주며 이에 따라 본 장비를 활용하여 전극 설계 최적화를 지원함. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110118125246.JPG |
| 장비위치주소 | 전북 전주시 덕진구 팔복동2가 820번지 전자부품연구원 나노기술집적센터 1층 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-133997 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0022245 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |