기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

장비 및 시설 기본정보

비표면적 측정기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Micromeritics
모델명 ASAP-2010
장비사양
취득일자 2001-04-16
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B400
표준분류명 기타
시설장비 설명 특징 장비 규격 및 특성 - 측정온도 -190C 촉매 전처리 350C max - Vac : 10-2torr - 기공 측정 범위 : 10nm~200nm 장비 사용 용도 - 촉매 등 다공성 분말 시료의 비표면적 및 기공 분포 측정 장비 Accessories - Vacuum PUMP Data Processing 용 Computer
장비이미지코드 https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201310/2013102316408603.jpg
장비위치주소 한국과학기술연구원 연구동(L1)
NFEC 등록번호 NFEC-2001-08-027146
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL https://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0049961
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)